Посещая этот сайт, вы принимаете программу использования cookie. Подробнее о нашей политике использования cookie.

ГОСТ 9450-76

ГОСТ Р 57283-2016 ГОСТ Р 56665-2015 ГОСТ Р 56667-2015 ГОСТ Р 56664-2015 ГОСТ Р 56666-2015 ГОСТ Р 56663-2015 ГОСТ Р 8.904-2015 ГОСТ Р 56656-2015 ГОСТ Р ИСО 4545-4-2015 ГОСТ Р ИСО 4545-1-2015 ГОСТ Р ИСО 20482-2015 ГОСТ Р 56186-2014 ГОСТ Р 55047-2012 ГОСТ Р 56187-2014 ГОСТ Р 56185-2014 ГОСТ Р 55043-2012 ГОСТ Р ИСО 10113-2014 ГОСТ ISO 7800-2013 ГОСТ Р ИСО 148-1-2013 ГОСТ Р ИСО 7438-2013 ГОСТ Р 55807-2013 ГОСТ Р 55806-2013 ГОСТ Р 55805-2013 ГОСТ Р 55045-2012 ГОСТ Р 55044-2012 ГОСТ Р 55046-2012 ГОСТ Р 8.748-2011 ГОСТ Р 53966-2010 ГОСТ Р 53965-2010 ГОСТ Р 53568-2009 ГОСТ Р ИСО 2566-1-2009 ГОСТ Р ИСО 2566-2-2009 ГОСТ 31244-2004 ГОСТ Р 52889-2007 ГОСТ Р 53205-2008 ГОСТ Р 52891-2007 ГОСТ Р 53204-2008 ГОСТ Р 52890-2007 ГОСТ Р 53006-2008 ГОСТ 7564-97 ГОСТ 25.503-97 ГОСТ 18227-98 ГОСТ 14019-2003 ГОСТ 18661-73 ГОСТ 8.044-80 ГОСТ 17367-71 ГОСТ 2999-75 ГОСТ 9450-76 ГОСТ 22762-77 ГОСТ 22706-77 ГОСТ 23273-78 ГОСТ 10510-80 ГОСТ 3565-80 ГОСТ 8693-80 ГОСТ 3248-81 ГОСТ 8.426-81 ГОСТ 25172-82 ГОСТ 7268-82 ГОСТ 8817-82 ГОСТ 8.509-84 ГОСТ 11701-84 ГОСТ 26446-85 ГОСТ 13813-68 ГОСТ 18835-73 ГОСТ 8818-73 ГОСТ 22761-77 ГОСТ 9454-78 ГОСТ 10145-81 ГОСТ 25095-82 ГОСТ 11150-84 ГОСТ 9651-84 ГОСТ 28868-90 ГОСТ 9013-59 ГОСТ 22975-78 ГОСТ 23677-79 ГОСТ 8.398-80 ГОСТ 26007-83 ГОСТ 25282-93 ГОСТ 30003-93 ГОСТ Р 52764-2007 ГОСТ 22848-77 ГОСТ 30456-97 ГОСТ 1497-84 ГОСТ 10006-80 ГОСТ 25.502-79 ГОСТ 25.505-85 ГОСТ 25.506-85 ГОСТ Р 52731-2007 ГОСТ Р 52727-2007

ГОСТ 9450–76 (СТ СЭВ 1195−78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)

ГОСТ 9450–76
(СТ СЭВ 1195−78)

Группа Т59

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

ИЗМЕРЕНИЕ МИКРОТВЕРДОСТИ
ВДАВЛИВАНИЕМ АЛМАЗНЫХ НАКОНЕЧНИКОВ

Measurements microhardness by diamond instruments indentation

Дата введения 1977−01−01

ИНФОРМАЦИОННЫЕ ДАННЫЕ

1. РАЗРАБОТАН И ВНЕСЕН Академией наук СССР

РАЗРАБОТЧИКИ:

Матвеевский Р. М., д-р техн. наук (руководитель темы); Беркович Е. С., канд. техн. наук; Рыньков Р.H., канд. техн. наук

2. УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Государственного комитета стандартов Совета Министров СССР от 09.01.76 г. N 68

3. Срок проверки — 1996 г.;

периодичность проверки — 5 лет

4. ССЫЛОЧНЫЕ НОРМАТИВНО-ТЕХНИЧЕСКИЕ ДОКУМЕНТЫ

Обозначение НТД,
на который дана ссылка
Номер пункта, подпункта, перечисления, приложения
ГОСТ 2789–73
4.1
ГОСТ 9377–81
Приложение 2
ТУ 3−3.1377−83
3.1; 3.2; 3.4; 3.5

5. Проверен в 1991 г. Постановлением Госстандарта N 1665 от 29.10.91 снято ограничение срока действия

6. ПЕРЕИЗДАНИЕ (март 1993 г.) с Изменениями N 1, 2, утвержденными в сентябре 1981 г., октябре 1991 г. (ИУС 11−81, 1−92)


Настоящий стандарт устанавливает метод измерения микротвердости изделий и образцов из металлов, сплавов, минералов, стекол, пластмасс, полупроводников, керамики, тонких листов, фольги, пленок, гальванических, диффузионных, химически осажденных и электроосажденных покрытий вдавливанием алмазных наконечников.

Испытуемые материалы по твердости ограничены изделиями (образцами) из алмаза и их производными.

Стандарт устанавливает два метода испытаний:

по восстановленному отпечатку (основной метод);

по невосстановленному отпечатку (дополнительный метод).

Настоящий стандарт соответствует СТ СЭВ 1195−78 в части измерения микротвердости металлов методом восстановленного отпечатка четырехгранной пирамидой с квадратным основанием (по Виккерсу).

1. ИСПЫТАНИЯ ПО МЕТОДУ ВОССТАНОВЛЕННОГО ОТПЕЧАТКА

1.1. Испытание на микротвердость вдавливанием по методу восстановленного отпечатка заключается в нанесении на испытуемую поверхность изделия (образца) отпечатка под действием статической нагрузки, приложенной к алмазному наконечнику в течение определенного времени. После удаления нагрузки и измерения параметров полученного отпечатка число микротвердости следует определить по формулам (см. пп.1.4−1.7) или по табл.1−28, приведенным в приложении 1.

1.2. При испытании следует применять алмазные наконечники, форма рабочей части которых должна соответствовать указанной в таблице. Указания по выбору наконечников приведены в приложении 2.

1.3. Число микротвердости определяют делением приложенной к алмазному наконечнику нормальной нагрузки на условную площадь боковой поверхности полученного отпечатка.

1.4. Для четырехгранной пирамиды с квадратным основанием число микротвердости ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)вычисляют по формуле

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2), (1)


если ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)выражена в ньютонах

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2),


если ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)выражена в килограмм-силах).

1.5. Для трехгранной пирамиды с основанием в виде равностороннего треугольника число микротвердости ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)вычисляют по формуле

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2), (2)


если ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)выражена в ньютонах

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2),


если ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)выражена в килограмм-силах).

1.6. Для четырехгранной пирамиды с ромбическим основанием число микротвердости ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)вычисляют по формуле

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2), (3)


если ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)выражена в ньютонах

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2),


если ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)выражена в килограмм-силах).

1.7. Для бицилиндрического наконечника число микротвердости (ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)) следует вычислять по формуле

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2), (4)


если ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)выражена в ньютонах

(ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2),


если ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)выражена в килограмм-силах).

В формулах (1)-(4) приняты следующие обозначения:

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2) — нормальная нагрузка, приложенная к алмазному наконечнику, Н (кгс);

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2) — условная площадь боковой поверхности полученного отпечатка, ммГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2);

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2) — размер отпечатка, мм;

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2) — среднее арифметическое длин обеих диагоналей квадратного отпечатка, мм;

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2) — радиус цилиндра, равный 2 мм;

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)и ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2) — углы разных заострений алмазных наконечников, гра

д.

1.8. Микротвердость, определенную по пп.1.4−1.7, обозначают соответственно ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2), ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2), ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)и ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)с указанием нагрузки в кгс и продолжительности ее приложения. Для микротвердости ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)продолжительность приложения нагрузки не указывают, если она в пределах 10−15 с.

Примеры условных обозначений


Микротвердость, определенная четырехгранной пирамидой с квадратным основанием при нагрузке 0,098 Н, приложенной в течение 15 с: ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)0,01.

Микротвердость, определенная четырехгранной пирамидой с квадратным основанием при нагрузке 0,98 Н, приложенной в течение 30 с: ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)01/30.

Микротвердость, определенная трехгранной пирамидой с основанием в виде равностороннего треугольника при нагрузке 0,0491 Н, приложенной в течение 5 с: ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)0,005/5.

Микротвердость, определенная четырехгранной пирамидой с ромбическим основанием при нагрузке 0,098 Н, приложенной в течение 10 с: ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)0,01/10.

2. ИСПЫТАНИЕ ПО МЕТОДУ НЕВОССТАНОВЛЕННОГО ОТПЕЧАТКА

2.1. Определение микротвердости вдавливанием по методу невосстановленного отпечатка заключается в нанесении на испытуемую поверхность изделия (образца) отпечатка под действием статической нагрузки, приложенной к алмазному наконечнику в течение определенного времени, с одновременным измерением глубины отпечатка. Число микротвердости следует определять по формулам (5)-(8).

2.2. Испытания по методу невосстановленного отпечатка следует проводить, когда требуются дополнительные характеристики материала (упругое восстановление, релаксация, ползучесть при нормальной температуре).

2.3. При испытании применяют алмазные наконечники с формой рабочей части, указанной в таблице.

2.4. Число микротвердости определяют делением приложенной к алмазному наконечнику нормальной нагрузки на условную площадь боковой поверхности отпечатка, соответствующую его измеренной глубине.

2.5. Для четырехгранной пирамиды с квадратным основанием число микротвердости ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)вычисляют по формуле

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2), (5)


если ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)выражена в ньютонах

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2),


если ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)выражена в килограмм-силах).

2.6. Для трехгранной пирамиды с основанием в виде равностороннего треугольника число микротвердости ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)вычисляют по формуле

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2), (6)


если ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)выражена в ньютонах

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2),


если ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)выражена в килограмм-силах).

2.7. Для четырехгранной пирамиды с ромбическим основанием число микротвердости ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)вычисляют по формуле

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2), (7)


если ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)выражена в ньютонах;

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2),


если ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)выражена в килограмм-силах).

2.8. Для бицилиндрического наконечника число микротвердости (ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)) вычисляют по формуле

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2),


если ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)выражается в ньютонах;

(ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2),


если ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)выражена в килограмм-силах).

В формулах (5)-(8) приняты следующие обозначения:

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2) — нормальная нагрузка, приложенная к алмазному наконечнику, Н (кгс);

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2) — условная площадь боковой поверхности полученного отпечатка, ммГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2);

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2) — глубина отпечатка, мм.

2.9. Формулы (5), (6), (7) и (8) получены из соотношений между размерами ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)или ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)и высотой ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)жестких геометрических тел форм рабочей части алмазных наконечников (см. таблицу):

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2);

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2);

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2);

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)

Наименование алмазных наконечников
Параметры заострения алмазных наконечников
Форма отпечатков
1. Четырехгранная пирамида с квадратным основанием

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)


ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)°

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)

2. Трехгранная пирамида с основанием в виде равностороннего треугольника

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)


ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2); ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2); ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)

3. Четырехгранная пирамида с ромбическим основанием

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)


ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2); ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)

4. Бицилиндрический наконечник

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)


ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2);
ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)мм — радиус цилиндра

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)

2.10. Микротвердость, определенная по пп.2.5−2.8, обозначается соответственно ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2), ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2), ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)и ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)с указанием нагрузки в кгс и продолжительности ее приложения.

Примеры условных обозначений


Микротвердость, определенная по высоте невосстановленного отпечатка четырехгранной пирамидой с квадратным основанием при нагрузке 0,098 Н, приложенной в течение 15 c: ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)0,01/15.

Микротвердость, определенная по высоте невосстановленного отпечатка бицилиндрическим наконечником при нагрузке 0,0491 Н, приложенной в течение 5 с: ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)0,005/5.

3. АППАРАТУРА

3.1. Для измерения микротвердости алмазными наконечниками применяют приборы по ТУ 3−3.1377−83.

3.2. Приборы комплектуют алмазными наконечниками в соответствии с требованиями, установленными в ТУ 3−3.1377−83.

3.3. В процессе испытаний прибор для измерения микротвердости должен обеспечивать соблюдения следующих условий:

плавное внедрение алмазного наконечника в испытуемый материал под действием приложенной к нему нормальной нагрузки ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2);

сохранение постоянства действия приложенной к алмазному наконечнику нагрузки в течение установленного времени;

допускаемые погрешности нагружения не должны превышать:

для нагрузок 0,1 Н и менее — 2% от номинального значения;

для нагрузок более 0,1 Н — 1% от номинального значения.

3.4. Прибор должен быть защищен от воздействия возможных вибраций, передаваемых через стены, пол зданий или через стол, на котором установлен прибор, амортизирующим устройством, предусмотренным в ТУ 3−3.1377−83.

3.5. Проверка приборов перед испытанием — по ТУ 3−3.1377−83.

3.6. Прибор должен быть снабжен микроскопом для отсчета отпечатков. Калибровочный коэффициент микроскопа должен быть установлен так, чтобы погрешность не превышала ±0,5% измеряемого значения.

Минимальное увеличение микроскопа должно быть:

200ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2) — для отпечатков свыше 25 мкм;

300ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2) — для отпечатков от 76 до 125 мкм;

400ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2) — для отпечатков менее 76 мкм.

Примечание. Для измерения отпечатка при увеличении 200ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)применяют объектив с апертурой не менее 0,4.

4. ПОДГОТОВКА К ИСПЫТАНИЮ

4.1. Поверхность испытуемого изделия (образца) должна быть свободной от загрязнения на участке нанесения отпечатка. Шероховатость испытуемой поверхности изделия (образца) не должна быть грубее ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)мкм, определяемой по ГОСТ 2789–73.

4.2. При подготовке поверхности испытуемого изделия (образца) необходимо принять меры предосторожности, учитывая возможное изменение твердости испытуемой поверхности вследствие нагрева или наклепа при механической обработке.

4.3. Испытуемое изделие (образец) должно быть установлено на предметном столике прибора так, чтобы в процессе испытания оно не смещалось, не прогибалось и не поворачивалось.

4.4. Поверхность изделия (образца), подлежащая испытанию, должна быть установлена перпендикулярно к оси алмазного наконечника.

4.5. Рабочая поверхность алмазного наконечника и поверхность испытуемого изделия должны быть сухими (без смазки).

5. ПРОВЕДЕНИЕ ИСПЫТАНИЯ

5.1. При испытании материала изделия (образца) на микротвердость вдавливанием применяют нагрузки 0,049 (0,005); 0,0981 (0,01); 0,1962 (0,02); 0,4905 (0,05); 0,981 (0,1); 1,962 (0,2) или 0,0491 (0,005); 0,0981 (0,01); 0,1962 (0,02); 0,4905 (0,05); 0,981 (0,1); 1,962 (0,2); 4,905 (0,5) Н (кгс).

При определении микротвердости металлов четырехгранной пирамидой с квадратным основанием допускается применять нагрузки 0,0098 (0,001); 0,0196 (0,002) и 2,943 (0,3) Н (кгс).

5.2. (Исключен, Изм. N 2).

5.3. Для получения наиболее точного результата измерения микротвердости нагрузка ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)должна быть возможно большей.

5.4. На стороне изделия (образца), противоположной испытуемой, после нанесения отпечатка не должно быть следов деформации материала, заметных невооруженным глазом.

5.5. При измерении микротвердости покрытий из однородного материала (гальванических, диффузионных, цементованных и др.) на металле или на других материалах нагрузка ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)должна быть тем меньше, чем тоньше слой покрытия. Если толщина испытуемого слоя неизвестна, то рекомендуется провести несколько измерений при различных нагрузках: 0,098; 0,196; 0,490; 0,981 Н и т. д.

Если материал основы [сердцевина изделия (образца)] не влияет на результат измерений, то значения микротвердости совпадут или будут близки друг к другу.

Если значения микротвердости при возрастании нагрузки будут уменьшаться или увеличиваться, то нагрузку следует уменьшать до тех пор, пока две смежные нагрузки не будут давать совпадающие или близкие друг к другу результаты.

5.6. Разность размеров ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)или ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)одного отпечатка не должна превышать 3% от меньшего значения.

5.7. Расстояние от центра отпечатка до края изделия (образца) должно быть не менее двойного размера отпечатка. Расстояние между центрами отпечатков, нанесенных на одну поверхность, должно превышать размер отпечатка более чем в три раза.

5.8. Нагружение должно осуществляться плавно, без толчков. Скорость опускания алмазного наконечника не должна сказываться на размерах отпечатка. Продолжительность выдержки должна составлять не менее 3 с.

5.9. Измерение размеров отпечатков выполняется на микроскопе в светлом поле с погрешностью отсчитывания ±0,5 от наименьшего деления шкалы при объективе увеличения 30−40 (численная апертура ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)).

5.10. Испытания проводят при температуре окружающей среды (20±5) °С.

5.11. Число отпечатков и место их нанесения на изделие (образец) должно устанавливаться в нормативно-технической документации на конкретные изделия.

5.12. При измерении микротвердости изделия (образца) с криволинейной поверхностью, когда радиус кривизны на один-два порядка больше размера отпечатка, числа микротвердости имеют условное значение — для сравнения микротвердости поверхностей одинаковой кривизны.

5.13. При измерении микротвердости изделий (образцов) из неоднородных, пористых, анизотропных материалов, когда требования пп.4.1 и 5.3−5.7 невыполнимы, шероховатость поверхности, величина нагрузки, время нагружения и выдержки под нагрузкой, допустимое искажение формы отпечатков, соотношение между минимальной толщиной слоя (образца) и глубиной отпечатка, введение поправочных коэффициентов на кривизну поверхности должны устанавливаться в нормативно-технической документации на конкретные изделия.

6. ОБРАБОТКА РЕЗУЛЬТАТОВ

6.1. Значения микротвердости вычисляют по формулам (1)-(8) или находят в таблицах приложения 1.

6.2. Размеры ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)или ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)отпечатка по его измеренной глубине ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)находят в таблице приложения 3.

6.3. За число микротвердости принимают среднее арифметическое результатов отдельных измерений.

6.4. Числа микротвердости разрешается округлять до целых единиц при двухзначных и более значениях и до одного-двух десятичных знака — при однозначных. Относительная погрешность округления числа микротвердости не должна превышать 2% от измеренной величины микротвердости.

6.5. В протоколе испытания следует указать:

обозначение испытанного изделия (образца);

тип прибора с указанием характеристик примененной оптики (объектив, окуляр);

обозначение микротвердости;

размеры отпечатков;

значение микротвердости.